咨询热线
010-8840 8841

Pockel Cells Drive, 普克尔盒驱动电源

产品中心 > Pockels Cells驱动电源 > Pockel Cells Drive, 普克尔盒驱动电源

Pockel Cells Drive, 普克尔盒驱动电源

Pockels Cells普克尔盒的运行需要特殊规格的脉冲。

FID GmbH开发了一系列特殊的脉冲发生器,用于驱动Pockels Cells普克尔盒。其振幅从几百伏到几十千伏,脉冲持续时间从几百皮秒到几百纳秒,重复频率从几百上千赫兹到兆赫兹。

这些脉冲发生器设计用于控制 Pockels Cells的性能,电容范围从1pF 至 10000pF,或承载 5Ω到400Ω(或更高,详细指标请联系我们)的阻性负载。
AR-EOS电场测量系统

复杂电场环境的"洞察之眼"

AR-EOS — 一体化、免校准的终极电场测量解决方案

真正的点测量 - 非金属微型探头,对电场零扰动
超宽频带覆盖 - 10Hz ~ 40GHz,一机全能
无畏强场环境 - 损坏阈值 >10 MV/m,无惧烧毁
灵活组合 - 支持1维、2维、3维及多点同步测量

AR-EOS电场测量系统

非金属微型电场探头

告别传统,开启电场测量新纪元

与传统测量方案相比,AR-EOS在多个维度实现了革命性突破

传统天线/金属探头
对电场有扰动,影响测量精度
尺寸大,无法实现真实"点"测量
易受电磁干扰,信号失真
高场强下易烧毁损坏
频带窄,需多台设备覆盖
AR-EOS 非金属微型探头
非金属材质,对电场零扰动
微型传感器,实现真实"点"测量
光纤传输,完全光隔离,抗干扰强
损坏阈值>10MV/m,无惧烧毁
超宽频带10Hz-40GHz,一机全能

结论:为HIRF、HPM、ESD、近场测量等极端复杂电磁环境而生的革命性解决方案

令人瞩目的性能参数

AR-EOS在关键技术指标上实现了行业领先,满足最严苛的测试需求

[频]
10Hz ~ 40GHz
超宽频带
[阈]
>10 MV/m
超高损坏阈值
[尺]
Φ5×35mm
微型探头尺寸
[动]
>120dB
超宽动态范围
[敏]
<80mV/m
高灵敏度
[强]
>300kV/m
最大测试场强

AR-EOS系统测试原理框图

[感]
传感器
非金属微型电场探头
[主]
主机
光电转换与信号处理
[分]
分析软件
电场数据可视化与分析