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AR-EOS光纤电场测量系统

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AR-EOS光纤电场测量系统

AR-EOS是一款超宽带、高场强的小尺寸电场测量系统，采用非金属微型传感器，实现6GHz/18GHz/40GHz真实“点”电场测量，无惧强场干扰，适用于HIRF、HPM、ESD、电路板分析、狭窄空间电场测量、近远场测试等复杂电磁环境监测。
AR-EOS电场测量系统 | 非金属微型探头，超宽带高场强电场测试解决方案

复杂电场环境的"洞察之眼"

AR-EOS — 一体化、免校准的终极电场测量解决方案

真正的点测量 - 非金属微型探头，对电场零扰动
超宽频带覆盖 - 10Hz ~ 40GHz，一机全能
无畏强场环境 - 损坏阈值 >10 MV/m，无惧烧毁
灵活组合 - 支持1维、2维、3维及多点同步测量
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告别传统，开启电场测量新纪元

传统天线/金属探头
对电场有扰动，影响测量精度
尺寸大，无法实现真实"点"测量
易受电磁干扰，信号失真
高场强下易烧毁损坏
频带窄，需多台设备覆盖
AR-EOS 非金属微型探头
非金属材质，对电场零扰动
微型传感器，实现真实"点"测量
光纤传输，完全光隔离，抗干扰强
损坏阈值>10MV/m，无惧烧毁
超宽频带10Hz-40GHz，一机全能

结论：为HIRF、HPM、ESD、近场测量等极端复杂电磁环境而生的革命性解决方案

令人瞩目的性能参数

10Hz ~ 40GHz
超宽频带
>10 MV/m
超高损坏阈值
Φ5×35mm
微型探头尺寸
>120dB
超宽动态范围
<80mV/m
高灵敏度
>300kV/m
最大测试场强
1U立方体卫星
10×10×10cm
微型卫星
约 2000:1
AR-EOS传感器

深度解析：为何AR-EOS与众不同

真实的"点"测量

微型非金属探头（Φ5×35mm），实现物理意义上的精确点场测量，避免因传感器尺寸导致的测量误差。

电磁环境"无损还原"

光纤传输，完全光隔离，确保信号无失真、设备无干扰，真实还原复杂电磁环境。

矢量射频信号输出

不仅测量场强，更能准确还原信号特性，支持复杂时域波形分析。

极端环境适应性

损坏阈值>10MV/m，无惧强场环境，特别适用于HPM、ESD等极端电磁环境测试。

免校准设计

出厂即用，无需现场校准，大幅节省调试时间，提高测量效率。

灵活扩展性

支持多探头同步测量，轻松构建1维、2维、3维电场分布测试系统。

广泛的应用场景

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航空航天

适用于飞机和航空航天电子设备的高强度辐射场HIRF/HPM测试，确保航空航天电子设备在极端电磁环境下的可靠性。

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轨道交通

高铁/动车组等高压输变电环境监测，保障列车控制系统在复杂电磁环境下的稳定运行。

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科研战略

高功率微波、等离子体、静电分析，支持前沿科学研究与应用。

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电子研发

PCB板近场辐射、天线特征（远/近场）测量，助力电子产品EMC设计与优化。

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EMC测试

多点位实时监测，提供全面的电磁兼容性测试解决方案。

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极端环境

ESD（静电放电）测试、强场环境监测，满足极端电磁环境下的测量需求。

系统连接示意图

电场传感器

非金属微型探头

主机系统

信号处理与采集

控制与分析软件

实时数据可视化

开启精准电场测量新时代

AR-EOS电场测量系统，以其非金属微型探头、超宽带覆盖、高场强耐受等革命性特性，为复杂电磁环境测试提供前所未有的精准度和可靠性。突破传统测量手段局限，“看”到前所未有的“新”环境，AR-EOS都是您电场测量需求的最佳选择。

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